因業(yè)務調(diào)整，部分個人測試暫不接受委托，望見諒。

檢測項目

純度測定、結(jié)晶水含量、游離氟離子濃度、金屬雜質(zhì)總量、稀土元素配分比、氧含量分析、粒徑分布測試、比表面積測定、晶體結(jié)構(gòu)表征、熱重分析（TGA）、差示掃描量熱（DSC）、X射線衍射峰半高寬、化學穩(wěn)定性評估、放射性核素篩查、中子吸收截面驗證、透光率測試、折射率測定、硬度測試、密度測量、表面形貌分析、元素分布成像、化學鍵合狀態(tài)分析、熱膨脹系數(shù)測定、電導率測試、磁化率測量、腐蝕速率評估、水解產(chǎn)物鑒定、揮發(fā)性物質(zhì)檢測、殘留溶劑分析、包覆層厚度測量

檢測范圍

核反應堆控制棒材料、中子屏蔽組件、閃爍晶體預制體、激光增益介質(zhì)基材、光學鍍膜靶材、高溫潤滑劑原料、稀土合金添加劑、磁致冷材料前驅(qū)體、熒光粉母體材料、化學氣相沉積粉末原料、熔鹽電解原料粉末、單晶生長原料塊體、核廢料固化基材樣品、輻射探測元件毛坯件、特種玻璃摻雜劑試樣、陶瓷燒結(jié)助劑粉體材料、催化劑載體前驅(qū)物樣品、功能涂層漿料半成品材料塊體樣品

檢測方法

X射線衍射法（XRD）：通過布拉格方程計算晶面間距，確定晶體結(jié)構(gòu)類型及晶格參數(shù)偏差值。

電感耦合等離子體質(zhì)譜（ICP-MS）：采用四級桿質(zhì)量分析器測定ppb級金屬雜質(zhì)元素含量。

熱重-差熱聯(lián)用（TG-DTA）：在程序控溫條件下同步測定材料熱分解溫度與相變焓值。

掃描電子顯微鏡（SEM-EDS）：利用二次電子成像結(jié)合能譜分析實現(xiàn)微區(qū)元素定量分布。

傅里葉變換紅外光譜（FTIR）：通過特征吸收峰識別氟化釓表面羥基及吸附物種類。

激光粒度分析儀：基于米氏散射理論測定亞微米級顆粒的粒徑分布曲線。

庫侖滴定法：采用氟離子選擇電極精確測定游離氟含量至0.01%精度。

中子活化分析（NAA）：通過核反應截面數(shù)據(jù)計算釓同位素豐度比。

同步熱分析儀（STA）：在惰性氣氛下同步記錄質(zhì)量變化與熱量流動數(shù)據(jù)。

紫外-可見分光光度計：依據(jù)比爾定律測定特定波長透光率計算光學性能參數(shù)。

檢測標準

GB/T12690.3-2021稀土金屬及其氧化物化學分析方法第3部分：氟量的測定
ISO21587-3:2007鋁硅酸鹽耐火材料化學分析-X射線熒光法測定稀土氧化物
ASTMC1457-18六氟化鈾中釓含量的標準測試方法
EJ/T20165-2018核級氟化釓粉末技術(shù)條件
GB/T17417.2-2010稀土礦石化學分析方法X射線熒光光譜法
ISO21078-1:2008耐火制品中硼酸三鈣含量的測定
ASTME3061-17用波長色散X射線熒光光譜法分析稀土金屬的標準指南
GB/T3884.21-2018銅精礦化學分析方法第21部分：汞量的測定
ISO20565-3:2008含鉻耐火制品化學分析第3部分：原子吸收光譜法
EJ/T1212.3-2008燒結(jié)氧化釓芯塊分析方法灼燒減量的測定

檢測儀器

波長色散X射線熒光光譜儀（WDXRF）：配備銠靶X光管和LiF分光晶體，用于主量元素快速定量分析。

高分辨透射電子顯微鏡（HRTEM）：配備球差校正器，可實現(xiàn)0.1nm級晶格條紋觀測。

動態(tài)光散射粒度儀（DLS）：采用632.8nm氦氖激光源測量納米顆粒Zeta電位。

同步輻射X射線吸收譜儀（XAS）：利用同步輻射光源獲取元素近邊吸收精細結(jié)構(gòu)。

激光誘導擊穿光譜儀（LIBS）：通過等離子體發(fā)射光譜實現(xiàn)原位快速成分篩查。

高溫旋轉(zhuǎn)流變儀：配備氧化鋁夾具測量熔融態(tài)粘度變化曲線。

四極桿飛行時間質(zhì)譜（Q-TOF）：具備高分辨質(zhì)量分析能力用于有機雜質(zhì)鑒定。

低溫比表面及孔隙度分析儀：基于BET理論計算材料比表面積及孔徑分布。

穆斯堡爾譜儀：利用γ射線共振吸收研究材料超精細相互作用。

全自動密度梯度柱：采用雙擴散法精確測量微米級顆粒真密度值。

檢測流程

1、咨詢：提品資料(說明書、規(guī)格書等)

2、確認檢測用途及項目要求

3、填寫檢測申請表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)

4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測)

5、收到樣品，安排費用后進行樣品檢測

6、檢測出相關(guān)數(shù)據(jù)，編寫報告草件，確認信息是否無誤

7、確認完畢后出具報告正式件

8、寄送報告原件