因業(yè)務(wù)調(diào)整，部分個(gè)人測(cè)試暫不接受委托，望見(jiàn)諒。

電子能譜檢測(cè)去哪里檢測(cè)?中析研究所材料檢測(cè)機(jī)構(gòu)可提供電子能譜檢測(cè)服務(wù)，CMA資質(zhì)認(rèn)證機(jī)構(gòu)，高新技術(shù)企業(yè)，正規(guī)的第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)，7-15個(gè)工作日出具電子能譜檢測(cè)報(bào)告，檢測(cè)周期短、檢測(cè)費(fèi)用低、檢測(cè)結(jié)果科學(xué)準(zhǔn)確!

檢測(cè)范圍

熱噴涂鋅鋁合金，CDS薄膜，半導(dǎo)體材料，電鍍錫鈷合金鍍層表面膜，催化材料，銅緩蝕劑，薄膜材料等。

檢測(cè)項(xiàng)目

俄歇電子能譜檢測(cè)，X射線光電子能譜檢測(cè)，紫外光電子能譜檢測(cè)，XPS表面光電子能譜檢測(cè)等。

檢測(cè)周期：7-15個(gè)工作日

檢測(cè)費(fèi)用：初檢小樣，稍后實(shí)驗(yàn)室工程師根據(jù)檢測(cè)項(xiàng)目報(bào)價(jià)。

電子能譜檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 19500-2004X一射線光電子能譜分析方法通則

GB/T 21006-2007表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強(qiáng)度標(biāo)的線性

GB/T 22571-2017表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀 能量標(biāo)尺的校準(zhǔn)

GB/T 25184-2010X射線光電子能譜儀檢定方法

GB/T 25185-2010表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 荷電控制和荷電校正方法的報(bào)告

GB/T 25187-2010表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜 選擇儀器性能參數(shù)的表述

GB/T 25188-2010硅晶片表面超薄氧化硅層厚度的測(cè)量 X射線光電子能譜法

GB/T 26533-2011俄歇電子能譜分析方法通則

GB/T 28632-2012表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 橫向分辨率測(cè)定

GB/T 28633-2012表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 強(qiáng)度標(biāo)的重復(fù)性和一致性

GB/T 28892-2012表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 選擇儀器性能參數(shù)的表述

GB/T 28893-2012表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 測(cè)定峰強(qiáng)度的方法和報(bào)告結(jié)果所需的信息

GB/T 29556-2013表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 橫向分辨率、分析面積和分析器所能檢測(cè)到的樣品面積的測(cè)定

GB/T 29558-2013表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜 強(qiáng)度標(biāo)的重復(fù)性和一致性

GB/T 29731-2013表面化學(xué)分析 高分辨俄歇電子能譜儀 元素和化學(xué)態(tài)分析用能量標(biāo)校準(zhǔn)

GB/T 29732-2021表面化學(xué)分析 中等分辨俄歇電子能譜儀 元素分析用能量標(biāo)校準(zhǔn)

電子能譜檢測(cè)流程

1、寄樣

2、初檢樣品

3、報(bào)價(jià)

4、雙方確定，簽訂保密協(xié)議，開(kāi)始實(shí)驗(yàn)

5、7-15個(gè)工作日完成實(shí)驗(yàn)

6、郵寄檢測(cè)報(bào)告，后期服務(wù)。

中析研究所檢測(cè)有什么優(yōu)勢(shì)

1、中析研究所CMA資質(zhì)認(rèn)證，出具正規(guī)的第三方檢測(cè)報(bào)告。

2、中析研究所擁有正規(guī)的第三方實(shí)驗(yàn)室，科研團(tuán)隊(duì)強(qiáng)大。

3、中析研究所7-15個(gè)工作日可出具檢測(cè)報(bào)告，檢測(cè)周期短。

4，中析研究所為嚴(yán)謹(jǐn)、公正科研機(jī)構(gòu)，高新技術(shù)企業(yè)

以上就是電子能譜檢測(cè)內(nèi)容，關(guān)于其他問(wèn)題，您可以咨詢材料實(shí)驗(yàn)室工程師為您解答!