因業(yè)務(wù)調(diào)整，部分個(gè)人測(cè)試暫不接受委托，望見(jiàn)諒。

檢測(cè)項(xiàng)目

信號(hào)建立時(shí)間測(cè)量：檢測(cè)信號(hào)從觸發(fā)到穩(wěn)定狀態(tài)所需時(shí)間。具體檢測(cè)參數(shù)包括最小建立時(shí)間、最大允許偏差、典型值。

信號(hào)保持時(shí)間測(cè)量：評(píng)估信號(hào)在時(shí)鐘邊沿后保持有效狀態(tài)的時(shí)間。具體檢測(cè)參數(shù)包括最小保持時(shí)間、穩(wěn)定性閾值。

上升時(shí)間分析：測(cè)量信號(hào)從10%幅度上升到90%幅度的轉(zhuǎn)換時(shí)間。具體檢測(cè)參數(shù)包括上升時(shí)間值、轉(zhuǎn)換速率。

下降時(shí)間分析：檢測(cè)信號(hào)從90%幅度下降到10%幅度的轉(zhuǎn)換時(shí)間。具體檢測(cè)參數(shù)包括下降時(shí)間值、斜率變化。

時(shí)鐘抖動(dòng)測(cè)量：量化時(shí)鐘信號(hào)的時(shí)序隨機(jī)波動(dòng)。具體檢測(cè)參數(shù)包括峰峰抖動(dòng)值、RMS抖動(dòng)值。

數(shù)據(jù)有效窗口測(cè)量：確定數(shù)據(jù)信號(hào)可被可靠讀取的時(shí)間范圍。具體檢測(cè)參數(shù)包括窗口寬度、邊緣不確定性。

傳輸延遲測(cè)試：評(píng)估信號(hào)從輸入端口到輸出端口的傳播延遲。具體檢測(cè)參數(shù)包括延遲時(shí)間、路徑損耗。

占空比評(píng)估：測(cè)量信號(hào)高電平持續(xù)時(shí)間占整個(gè)周期的比例。具體檢測(cè)參數(shù)包括占空比百分比、周期穩(wěn)定性。

交叉耦合分析：檢測(cè)信號(hào)間相互干擾導(dǎo)致的時(shí)序偏移。具體檢測(cè)參數(shù)包括耦合系數(shù)、偏移量。

恢復(fù)時(shí)間測(cè)量：評(píng)估信號(hào)從無(wú)效狀態(tài)返回穩(wěn)定狀態(tài)所需時(shí)間。具體檢測(cè)參數(shù)包括恢復(fù)時(shí)間最小值、過(guò)渡特性。

去除時(shí)間測(cè)量：檢測(cè)信號(hào)從穩(wěn)定狀態(tài)過(guò)渡到無(wú)效狀態(tài)的時(shí)間。具體檢測(cè)參數(shù)包括去除時(shí)間值、衰減特性。

時(shí)序余量計(jì)算：計(jì)算設(shè)置時(shí)間和保持時(shí)間的余量以確保系統(tǒng)可靠性。具體檢測(cè)參數(shù)包括余量值、安全閾值。

檢測(cè)范圍

微處理器：中央處理單元芯片的時(shí)序特性驗(yàn)證。

現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列：可重構(gòu)邏輯設(shè)備的信號(hào)建立保持穩(wěn)定性檢測(cè)。

動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器：DRAM模塊的數(shù)據(jù)保持和設(shè)置時(shí)間分析。

靜態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器：SRAM單元的快速訪問(wèn)時(shí)序評(píng)估。

高速串行接口：如PCIe鏈路的信號(hào)完整性和時(shí)序兼容性測(cè)試。

時(shí)鐘分發(fā)網(wǎng)絡(luò)：系統(tǒng)時(shí)鐘信號(hào)的時(shí)序一致性和抖動(dòng)分析。

數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器：ADC和DAC設(shè)備的轉(zhuǎn)換時(shí)序及穩(wěn)定性測(cè)試。

嵌入式控制器：微控制器基板的時(shí)序參數(shù)驗(yàn)證。

通信協(xié)議芯片：如USB控制器的信號(hào)時(shí)序符合性檢測(cè)。

電源管理單元：電壓調(diào)節(jié)控制信號(hào)的建立保持時(shí)間評(píng)估。

傳感器接口電路：模擬信號(hào)到數(shù)字轉(zhuǎn)換的時(shí)序特性分析。

顯示驅(qū)動(dòng)器：LCD或LED驅(qū)動(dòng)的信號(hào)時(shí)序穩(wěn)定性測(cè)量。

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

IEEE Std JianCe9.1-2013：定義邊界掃描測(cè)試方法用于時(shí)序驗(yàn)證。

JEDEC JESD79-4A：規(guī)定DDR4 SDRAM的信號(hào)建立保持要求。

ISO/IEC 11801：信息技術(shù)布線系統(tǒng)的信號(hào)時(shí)序規(guī)范。

GB/T 17618：信息技術(shù)設(shè)備電磁兼容性時(shí)序相關(guān)測(cè)試準(zhǔn)則。

ASTM F2592-08：電子設(shè)備信號(hào)時(shí)序測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)方法。

IEC 61000-4-30：電能質(zhì)量測(cè)量中的信號(hào)時(shí)序評(píng)估指南。

GB/T 20234.1：新能源汽車充電接口信號(hào)時(shí)序規(guī)范。

ISO/IEC 13239：高級(jí)數(shù)據(jù)鏈路控制協(xié)議的時(shí)序兼容性要求。

檢測(cè)儀器

數(shù)字存儲(chǔ)示波器：高速捕獲電壓隨時(shí)間變化波形。用于直接測(cè)量信號(hào)建立時(shí)間、保持時(shí)間、上升下降時(shí)間參數(shù)。

邏輯分析儀：采集并行數(shù)字信號(hào)數(shù)據(jù)流。用于分析復(fù)雜時(shí)序關(guān)系、數(shù)據(jù)模式及窗口寬度。

時(shí)間間隔分析儀：精確測(cè)量信號(hào)間時(shí)間差。用于評(píng)估抖動(dòng)值、傳輸延遲及恢復(fù)時(shí)間。

波形發(fā)生器：產(chǎn)生可控測(cè)試信號(hào)刺激電路。用于仿真時(shí)鐘邊沿、驗(yàn)證建立保持時(shí)間響應(yīng)。

頻譜分析儀：分析信號(hào)頻率分量及噪聲。用于輔助抖動(dòng)測(cè)量及時(shí)序穩(wěn)定性評(píng)估。

誤碼率測(cè)試儀：驗(yàn)證信號(hào)在高噪聲環(huán)境下的完整性。用于檢測(cè)數(shù)據(jù)有效窗口及占空比影響。

協(xié)議分析儀：解碼通信協(xié)議數(shù)據(jù)包。用于確保時(shí)序符合標(biāo)準(zhǔn)如高速接口規(guī)范。

檢測(cè)流程

1、咨詢：提品資料(說(shuō)明書(shū)、規(guī)格書(shū)等)

2、確認(rèn)檢測(cè)用途及項(xiàng)目要求

3、填寫(xiě)檢測(cè)申請(qǐng)表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)

4、按要求寄送樣品(部分可上門(mén)取樣/檢測(cè))

5、收到樣品，安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測(cè)

6、檢測(cè)出相關(guān)數(shù)據(jù)，編寫(xiě)報(bào)告草件，確認(rèn)信息是否無(wú)誤

7、確認(rèn)完畢后出具報(bào)告正式件

8、寄送報(bào)告原件