因業(yè)務(wù)調(diào)整，部分個(gè)人測(cè)試暫不接受委托，望見諒。
電鏡觀察
電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope,簡(jiǎn)稱TEM）和掃描電子顯微鏡（Scanning Electron Microscope，簡(jiǎn)稱SEM）是目前常用的電鏡觀察工具，可用于觀察微觀結(jié)構(gòu)和納米結(jié)構(gòu)。電鏡觀察是一種精確的檢測(cè)方法，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生命科學(xué)、醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域。
檢測(cè)范圍
電鏡觀察可以檢測(cè)各種材料的微觀結(jié)構(gòu)，包括金屬、陶瓷、生物樣品、納米材料等。
檢測(cè)項(xiàng)目分類
電鏡觀察的檢測(cè)項(xiàng)目主要包括：
1.微觀結(jié)構(gòu)觀察：對(duì)材料的晶體結(jié)構(gòu)、晶界、位錯(cuò)等進(jìn)行觀察和分析。
2.納米顆粒表征：對(duì)納米顆粒的形態(tài)、尺寸、分布等進(jìn)行觀察和分析。
3.生物樣品觀察：對(duì)細(xì)胞、細(xì)菌、病毒等微生物結(jié)構(gòu)進(jìn)行觀察和研究。
檢測(cè)方法和檢測(cè)儀器
電鏡觀察主要分為透射電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡兩種：
1.透射電子顯微鏡（TEM）：適用于觀察材料的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和細(xì)微的晶體結(jié)構(gòu)。
2.掃描電子顯微鏡（SEM）：適用于觀察材料表面形貌、表面成分和納米結(jié)構(gòu)。
服務(wù)優(yōu)勢(shì)
電鏡觀察具有高分辨率、高放大倍數(shù)、成像清晰等優(yōu)勢(shì)，可以幫助科研人員和工程師深入了解材料的微觀結(jié)構(gòu)，為材料設(shè)計(jì)和性能優(yōu)化提供重要依據(jù)。
電鏡觀察標(biāo)準(zhǔn)列舉
SN/T 1840-2006(2014) 植物病毒免疫電鏡檢測(cè)方法
SN/T 1840-2006(2010) 植物病毒免疫電鏡檢測(cè)方法
CB/T 4316-2013 液流觀察器Sight glasses
GB/T 17722-1999 金覆蓋層厚度的掃描電鏡測(cè)量方法Gold-plated thickness measurement by SEM
CBM 1039-1981(2009) 法蘭鑄鐵液流觀察器
GB/T 31563-2015 金屬覆蓋層 厚度測(cè)量 掃描電鏡法
GA/T 538-2005 短波紫外圖像觀察儀Short wave ultra-violet image observation instrument
GA/T 1418-2017 法庭科學(xué)玻璃物證的元素成分檢驗(yàn) 掃描電鏡/能譜法
CY/T 3-1999 色評(píng)價(jià)照明和觀察條件
SN/T 3009-2011 金屬表面海水腐蝕掃描電鏡鑒定方法
GB/T 27788-2020 微束分析 掃描電鏡 圖像放大倍率校準(zhǔn)導(dǎo)則Microbeam analysis—Scanning electron microscopy—Guidelines for calibrating image magnification
CBM 1124-1982 船用筒形觀察器Marine cylindrical sight glasses
SJ 1774-1981 真空設(shè)備觀察窗Observation window for vacuum equipment
GB/T 16594-2008 微米級(jí)長(zhǎng)度的掃描電鏡測(cè)量方法通則General rules for measuremnt of length in micron scale by SEM
SN/T 4388-2015 皮革鑒定 掃描電鏡和光學(xué)顯微鏡法
YS/T 1623-2023 鋁合金時(shí)效析出相的檢驗(yàn) 透射電鏡法
GB/T 17362-2008 黃金制品的掃描電鏡X射線能譜分析方法Analysis method for gold products with X-ray EDS in SEM
GB/T 20307-2006 納米級(jí)長(zhǎng)度的掃描電鏡測(cè)量方法通則General rules for nanometer-scale length measurement by SEM
GB/T 36422-2018 化學(xué)纖維 微觀形貌及直徑的測(cè)定 掃描電鏡法
GB/T 38783-2020 貴金屬?gòu)?fù)合材料覆層厚度的掃描電鏡測(cè)定方法
GB/T 18735-2014 微束分析 分析電鏡(ＡＥＭ／ＥＤＳ)納米薄標(biāo)樣通用規(guī)范Microbeam analysis—General guide for the specification of nanometer thin reference materials for analytical transmission electron microscope (AEM/EDS)
NY/T 2408-2013 花生栽培觀察記載技術(shù)規(guī)范Observation and record technical specification of peanut in cultivation
GA/T 951-2011 紫外觀察照相系統(tǒng)數(shù)碼拍照規(guī)則Regulation of digital photography by ultra-violet observation photography system
GB/T 30834-2022 鋼中非金屬夾雜物的評(píng)定和統(tǒng)計(jì) 掃描電鏡法Rating and classifying of inclusions in steel—Scanning electron microscope method
GB/T 18907-2013 微束分析 分析電子顯微術(shù) 透射電鏡選區(qū)電子衍射分析方法Method of selected area electron diffraction for transmission electron microscopes
GB/T 35099-2018 微束分析 掃描電鏡-能譜法 大氣細(xì)粒子單顆粒形貌與元素分析
YS/T 1491-2021 鎳基高溫合金粉末球形率測(cè)定方法 掃描電鏡法
YY/T 0610-2007 醫(yī)學(xué)影像照片觀察裝置通用技術(shù)條件General specifications for illuminators of medical Image film
GB/T 5097-2020 無損檢測(cè) 滲透檢測(cè)和磁粉檢測(cè) 觀察條件Non-destructive testing--Penetrant testing and magnetic particle testing--Viewing conditions
GB/T 25189-2010 微束分析 掃描電鏡能譜儀定量分析參數(shù)的測(cè)定方法Microbeam analysis--Determination method for quantitative analysis parameters of SEM-EDS
更多電鏡觀察標(biāo)準(zhǔn)可咨詢工程師，工程師會(huì)根據(jù)不同產(chǎn)品類型的特點(diǎn)、不同行業(yè)和不同國(guó)家的法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)以及客戶的需求，選取相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)的項(xiàng)目和方法進(jìn)行電鏡觀察。
