微觀譜圖分析 ? 組成元素分析
定性定量分析 ? 組成成分分析
性能質(zhì)量 ? 含量成分
爆炸極限 ? 組分分析
理化指標(biāo) ? 衛(wèi)生指標(biāo) ? 微生物指標(biāo)
理化指標(biāo) ? 微生物指標(biāo) ? 儀器分析
安定性檢測(cè) ? 理化指標(biāo)檢測(cè)
產(chǎn)品研發(fā) ? 產(chǎn)品改善
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中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
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發(fā)布時(shí)間:2025-04-18
關(guān)鍵詞:光刻膠成分精細(xì)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn),光刻膠成分精細(xì)檢測(cè)機(jī)構(gòu),光刻膠成分精細(xì)試驗(yàn)儀器
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來(lái)源:北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
因業(yè)務(wù)調(diào)整,部分個(gè)人測(cè)試暫不接受委托,望見諒。
測(cè)定酚醛樹脂、丙烯酸酯類或化學(xué)放大樹脂的分子量分布及官能團(tuán)含量。重點(diǎn)監(jiān)控樹脂聚合度(PDI≤1.2)、羥基值(150-250 mgKOH/g)及熱分解溫度(≥300℃)等關(guān)鍵參數(shù)。
精確測(cè)定二苯甲酮類、硫鎓鹽類等光敏物質(zhì)含量(ppm級(jí)),驗(yàn)證其吸收波長(zhǎng)(365-193nm)與量子效率(≥0.8)。同步監(jiān)測(cè)分解產(chǎn)物濃度以控制副反應(yīng)。
分析表面活性劑(氟系/硅系)、流平劑及穩(wěn)定劑的配比精度(±0.5%)。特別關(guān)注含硫/金屬添加劑殘留量(≤10ppb)。
測(cè)定丙二醇甲醚醋酸酯(PGMEA)、環(huán)己酮等溶劑的殘留量(≤50ppm),建立沸程分布(120-180℃)與蒸發(fā)速率(0.8-1.2g/m2·s)的對(duì)應(yīng)關(guān)系。
采用ICP-MS檢測(cè)鈉、鉀、鐵等23種金屬元素(≤1ppb),重點(diǎn)監(jiān)控過(guò)渡金屬對(duì)曝光區(qū)蝕刻速率的影響系數(shù)(K值≤0.05)。
覆蓋g線(436nm)至i線(365nm)全系產(chǎn)品:包括正性/負(fù)性光刻膠的膜厚均勻性(±5nm)、折射率(1.6-1.7)及駐波比(≤1.05)等光學(xué)特性。
適用于KrF(248nm)與ArF(193nm)曝光系統(tǒng):重點(diǎn)評(píng)價(jià)抗干法蝕刻能力(選擇比≥3:1)、線寬粗糙度(LWR≤4nm)及曝光寬容度(≥15%)。
匹配EUV(13.5nm)光源特性:監(jiān)測(cè)靈敏度(10-30mJ/cm2)、分辨率(≤16nm HP)及出氣率(≤5×101? molecules/cm2)。
包含雙層結(jié)構(gòu)用犧牲層材料、電子束直寫膠及納米壓印膠:驗(yàn)證階梯覆蓋率(≥95%)、顯影速率比(1:1.2-1.5)及熱流變特性(Tg≥150℃)。
HPLC-MS/MS測(cè)定樹脂分子量分布(MWD),GC-MS分析揮發(fā)性有機(jī)物(VOCs),LC-QTOF實(shí)現(xiàn)未知物結(jié)構(gòu)解析(質(zhì)量精度<2ppm)。
FTIR鑒定官能團(tuán)特征峰(4000-400cm?1),UV-Vis測(cè)定吸光度曲線(200-500nm),橢偏儀計(jì)算復(fù)折射率(n&k值精度±0.001)。
TGA測(cè)定熱失重曲線(升溫速率10℃/min),DSC分析玻璃化轉(zhuǎn)變溫度(±0.5℃),TMA監(jiān)控?zé)崤蛎浵禂?shù)(CTE≤50ppm/℃)。
AFM測(cè)量表面粗糙度(Ra≤0.5nm),SEM-EDX進(jìn)行元素面分布分析,XPS測(cè)定表面化學(xué)態(tài)(結(jié)合能精度±0.1eV)。
配備示差折光檢測(cè)器與蒸發(fā)光散射檢測(cè)器:色譜柱溫控精度±0.1℃,流動(dòng)相梯度誤差<1%,保留時(shí)間重復(fù)性RSD≤0.5%。
質(zhì)量范圍m/z 50-20000,分辨率≥40000(FWHM),質(zhì)量精度<2ppm。配備MALDI源實(shí)現(xiàn)高分子量物質(zhì)電離。
檢出限達(dá)ppt級(jí),動(dòng)態(tài)線性范圍>10?。四極桿碰撞池技術(shù)消除多原子干擾,同位素比測(cè)定精度±0.05%。
最大載荷500mN,位移分辨率0.01nm。通過(guò)Oliver-Pharr法計(jì)算彈性模量(E=5-10GPa)與硬度值(H=0.2-0.8GPa)。
測(cè)量范圍1nm-10μm,采用Mie散射理論計(jì)算粒徑分布。配備動(dòng)態(tài)光散射模塊測(cè)定Zeta電位(±30mV)。
1、咨詢:提品資料(說(shuō)明書、規(guī)格書等)
2、確認(rèn)檢測(cè)用途及項(xiàng)目要求
3、填寫檢測(cè)申請(qǐng)表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)
4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測(cè))
5、收到樣品,安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測(cè)
6、檢測(cè)出相關(guān)數(shù)據(jù),編寫報(bào)告草件,確認(rèn)信息是否無(wú)誤
7、確認(rèn)完畢后出具報(bào)告正式件
8、寄送報(bào)告原件