因業(yè)務(wù)調(diào)整，部分個(gè)人測(cè)試暫不接受委托，望見(jiàn)諒。

檢測(cè)項(xiàng)目

膜層厚度、厚度均勻性、附著力強(qiáng)度、表面粗糙度、方阻值、透光率、反射率、折射率、色度坐標(biāo)、針孔密度、顆粒污染度、結(jié)晶取向度、應(yīng)力分布、熱穩(wěn)定性、耐腐蝕性、元素成分比例、氧含量、碳?xì)埩袅?、界面擴(kuò)散層厚度、膜基結(jié)合力、表面能、接觸角、缺陷尺寸分布、臺(tái)階覆蓋率、邊緣覆蓋率、孔隙率、密度梯度、相結(jié)構(gòu)純度、電遷移率、光學(xué)帶隙值

檢測(cè)范圍

OLED陽(yáng)極層、TFT陣列基板、柔性顯示封裝層、光學(xué)增透膜層、太陽(yáng)能電池電極層、半導(dǎo)體鈍化層、MEMS器件結(jié)構(gòu)層、裝飾鍍膜基材、防偽標(biāo)識(shí)金屬層、光伏背板阻隔層、磁控濺射靶材鍍層、真空鍍鋁包裝膜層、微電子線(xiàn)路連接層、量子點(diǎn)發(fā)光薄膜層、紅外濾光片涂層類(lèi)金剛石硬質(zhì)鍍層生物傳感器敏感膜層超導(dǎo)薄膜電路層納米壓印模板鍍層航天器熱控涂層汽車(chē)燈罩反射膜醫(yī)療導(dǎo)管導(dǎo)電層食品包裝阻氧膜AR眼鏡分光膜鋰電池集流體涂層衛(wèi)星光學(xué)鏡面鍍層

檢測(cè)方法

臺(tái)階儀通過(guò)探針掃描測(cè)量臺(tái)階高度差計(jì)算膜厚；X射線(xiàn)熒光光譜法利用元素特征X射線(xiàn)定量分析成分；劃格法采用標(biāo)準(zhǔn)刀具劃切后膠帶剝離評(píng)估附著力等級(jí)；原子力顯微鏡通過(guò)探針微觀形貌掃描獲取表面粗糙度數(shù)據(jù)；四探針電阻測(cè)試儀依據(jù)線(xiàn)性陣列探針接觸測(cè)量方阻值；分光光度計(jì)基于透射/反射光譜測(cè)定光學(xué)參數(shù)；掃描電鏡結(jié)合能譜實(shí)現(xiàn)微區(qū)形貌觀察與元素分布分析；橢偏儀通過(guò)偏振光相位變化解析薄膜光學(xué)常數(shù)；X射線(xiàn)衍射儀根據(jù)衍射峰位判定晶體結(jié)構(gòu)特性；熱重分析儀監(jiān)測(cè)程序升溫過(guò)程中的質(zhì)量變化評(píng)估熱穩(wěn)定性

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

ISO1463:2021《金屬和非金屬覆蓋層厚度測(cè)量顯微鏡法》ASTMB487-20《通過(guò)橫截面顯微觀察測(cè)量金屬和氧化物涂層厚度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法》GB/T11378-2005《金屬覆蓋層厚度輪廓尺寸測(cè)量方法》IEC62788-6-1:2020《光伏組件用材料的測(cè)量程序第6-1部分：封裝材料水蒸氣透過(guò)率的測(cè)定》JISH8504:2018《金屬覆膜附著強(qiáng)度試驗(yàn)方法》ISO2178:2016《非磁性基體金屬上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量磁性法》ASTMD3359-17《通過(guò)膠帶試驗(yàn)測(cè)定附著力的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法》GB/T4955-2021《金屬覆蓋層覆蓋層厚度測(cè)量陽(yáng)極溶解庫(kù)侖法》ISO9220:2022《金屬鍍層鍍層厚度的測(cè)量掃描電子顯微鏡法》ASTMF1249-20《使用調(diào)制紅外傳感器測(cè)定塑料薄膜和水蒸氣傳輸速率的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法》

檢測(cè)儀器

臺(tái)階輪廓儀：配備高精度壓電驅(qū)動(dòng)器實(shí)現(xiàn)納米級(jí)垂直分辨率測(cè)量；X射線(xiàn)熒光光譜儀：采用多道分析器同步采集特征X射線(xiàn)能譜；原子力顯微鏡：通過(guò)激光反射監(jiān)測(cè)微懸臂形變量構(gòu)建三維表面形貌；四探針測(cè)試臺(tái)：配置自動(dòng)壓力控制系統(tǒng)保證探針接觸一致性；紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)：集成積分球附件實(shí)現(xiàn)漫反射/透射全光譜采集；場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡：配備二次電子探測(cè)器與背散射電子探測(cè)器進(jìn)行納米級(jí)缺陷觀測(cè)；橢偏光譜儀：采用旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器結(jié)構(gòu)精確測(cè)定薄膜復(fù)折射率參數(shù)；X射線(xiàn)衍射儀：配置高分辨率測(cè)角儀進(jìn)行晶體結(jié)構(gòu)定量分析；熱重分析儀：采用微量天平實(shí)時(shí)記錄高溫環(huán)境下的質(zhì)量變化曲線(xiàn)；激光共聚焦顯微鏡：通過(guò)共聚焦光路設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)亞微米級(jí)三維表面重構(gòu)

檢測(cè)流程

1、咨詢(xún)：提品資料(說(shuō)明書(shū)、規(guī)格書(shū)等)

2、確認(rèn)檢測(cè)用途及項(xiàng)目要求

3、填寫(xiě)檢測(cè)申請(qǐng)表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)

4、按要求寄送樣品(部分可上門(mén)取樣/檢測(cè))

5、收到樣品，安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測(cè)

6、檢測(cè)出相關(guān)數(shù)據(jù)，編寫(xiě)報(bào)告草件，確認(rèn)信息是否無(wú)誤

7、確認(rèn)完畢后出具報(bào)告正式件

8、寄送報(bào)告原件