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發(fā)布時間：2024-01-08
關(guān)鍵詞：GB/T 12604.12-2021 無損檢測 術(shù)語 第12部分：工業(yè)射線計算機層析成像檢測
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來源：北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
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本文件界定了工業(yè)射線計算機層析成像(CT)檢測使用的術(shù)語。本文件提供的術(shù)語適用于CT檢測及其他輻射成像相關(guān)領(lǐng)域。
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3.1
吸收 absorption
光電吸收 photoelectric absorption
光子與物質(zhì)發(fā)生相互作用，人射光子被物質(zhì)的原子吸敢，并發(fā)射出電子的過程。
注，見康普頓散射(3.6)，
3.2
角度增量 angular increment
相鄰CT投影(3.15)之間的角度間隔。
3.3
偽像 artefact:artifact
CT圖橡(3.13)上出現(xiàn)的與被測物體物理特征不相符的圖像信息。
3.4
射束硬化heam hardening
能譜硬化pectrum hardening
多色能譜射線束穿過物體時由于低能量光子更快衰誠而引起的射線束能譜變化。
注：見杯狀效應(yīng)(3.20)，
3.5
射束寬度heam width:BW
在被測物體的特定位置且垂直時線的方向上，射線源發(fā)出的被單個探測器接收的射束有效寬度。
注：根據(jù)幾何關(guān)系，將射線源和探測器對成像的影響分別折算到圖像重建中心而構(gòu)建的函數(shù)，數(shù)學(xué)表達式見公式
(1).
式中：
M一幾何放大信數(shù)，M=SDD/SOD；
d一深測器寬度；
a一射線源焦點尺寸，
